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Configurado para la medición de procesos industriales en plataformas DCS, el Yokogawa NFAR181-S50 (Módulo de entrada RTD NFAR181-S50) proporciona adquisición directa de señal y aislamiento galvánico para entradas de sensor RTD.
| Parámetro | Especificación |
|---|---|
| Modelo | NFAR181-S50 |
| Marca | Yokogawa |
| Origen | Japón |
| Peso | 0,2 kg |
| Dimensiones | Factor de forma de tarjeta de E/S estándar de Yokogawa |
| Temperatura de funcionamiento | Rango industrial estándar (consultar el manual del sistema) |
| Consumo de energía | 450 mA (5 V CC) |
| Canales de entrada | 12, aislados |
| Tipo de señal de entrada | Pt100 (3 hilos) |
| Rango de entrada | -200 a 800 °C |
| Precisión | +/- 0,15 °C |
| Tensión de resistencia | 1500 V CA (entrada al sistema) |
El módulo mantiene la integridad de la señal mediante compensación activa de unión fría (CJC) para los circuitos de medición de temperatura y proporciona un robusto aislamiento canal a canal. La resistencia de entrada se mantiene en 2 MOhm o más en los estados de encendido y apagado para evitar efectos de carga en el bucle del sensor. La circuitería de medición interna utiliza una corriente de excitación de 1 mA para los sensores Pt100, con una característica de deriva térmica de 30 ppm/°C. La integración del sistema se admite mediante un ciclo de actualización de datos de 1 segundo, con umbrales de detección de quemado configurables para cada uno de los 12 canales para facilitar el diagnóstico temprano de fallos de circuito abierto o cortocircuito en el cableado de campo.
P: ¿Se puede ajustar el tiempo de detección de quemado para canales individuales?
R: La detección de quemado es una característica de configuración global dentro de los parámetros del módulo, con una ventana de detección fija de 60 segundos.
P: ¿La clasificación de tensión de resistencia de 1500 V CA se aplica a todos los terminales de E/S?
R: La clasificación de tensión de resistencia de 1500 V CA durante 1 minuto se especifica entre los terminales de señal de entrada y la lógica de la placa posterior del sistema interno.